Tartu ülikoolis tutvustatakse uut seadet aine koostise uurimiseks

TÜ keemia instituut tutvustab kolmapäeval, 1. aprillil kell 12 Chemicumis (Ravila 14a-1021) uue seadme, lennuaja sekundaarioonide mass-spektromeetri (ToF-SIMS) mõõtekompleksi tööpõhimõtteid ja võimalusi. Seminarile on oodatud nii akadeemilised kui ka erasektori partnerid jt huvilised.

ToF-SIMS seadet saab kasutada teadusvaldkondades, mis tegelevad aine koostise uuringutega. Seade võimaldab „koorida“ materjali pinnalt väga õhukesi tükke ja siis neid tükke identifitseerida.

„Me saame öelda, millistest aatomitest või molekulidest tundmatu aine pind koosneb. Oluline on just see, et me ei saa infot aine seest, vaid väga selektiivselt aine pinda uurides. Pind võib oma omadustes tihti sisemusest erineda,“ kirjeldas TÜ optika ja spektroskoopia vanemteadur Sven Lange.

Seadme kasutusvaldkondadeks on: keemia, füüsika, geoloogia, bioloogia jne. Tihti kasutatakse seadet näiteks keemias sünteesitulemuste kontrollimiseks.

Seminaril esineb tootjafirma Physical Electronics USA Inc esindaja Gregory L. Fisher (Ph.D).

Seade on Chemicumis edukalt tööle rakendatud. Toimuvad regulaarseid mõõtmised.

Mõõtekompleks on soetatud Eesti teaduse teekaardiobjekti „Nanomaterjalid – uuringud ja rakendused“ raames firmalt Physical Electronics USA Inc.

Lisainfo: Sven Lange, TÜ optika ja spektroskoopia vanemteadur, tel: 737 4718, e-post: sven.lange@ut.ee.

Virge Tamme
Tartu Ülikooli pressiesindaja
Tel: +(372) 737 5683
Mob: +(372) 5815 5392